タケウチ　カン   竹内　幹    所属   理工学部 総合理工学科    職種   特任教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	2008
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	"Clock-skew Test Module for Exploring Reliable Clock-Distribution under Process and Global Voltage-Temperature Variations,"
執筆形態	共著
掲載誌名	IEEE Trans. on VLSI systems
掲載区分	国外
巻・号・頁	16(11),pp.1559-1566
著者・共著者	K. Takeuchi, A. Yoshikawa, M. Komoda, K. Kotani, H. Matsushita, Y. Katsuki, Y. Yamamoto, and T. Sato
DOI	10.1109/TVLSI.2008.2000975