タケウチ カン
竹内 幹 所属 理工学部 総合理工学科 職種 特任教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2008 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | "Clock-skew Test Module for Exploring Reliable Clock-Distribution under Process and Global Voltage-Temperature Variations," |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | IEEE Trans. on VLSI systems |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 16(11),pp.1559-1566 |
著者・共著者 | K. Takeuchi, A. Yoshikawa, M. Komoda, K. Kotani, H. Matsushita, Y. Katsuki, Y. Yamamoto, and T. Sato |
DOI | 10.1109/TVLSI.2008.2000975 |