タケウチ カン
竹内 幹 所属 理工学部 総合理工学科 職種 特任教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 1989 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | “A Cross Section of α-Particle-Induced Soft-Error Phenomena in VLSI’s,” |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | IEEE Trans. Electron Devices |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 36(11),pp.2567-2575 |
著者・共著者 | E. Takeda, K. Takeuchi, D. Hisamoto, T. Toyabe, K. Ohshima, and K. Itoh |
DOI | 10.1109/16.43681 |